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低温试验 检测服务中心面向集成电路、电子元器件、半导体、PCBA、LED、汽车电子、新材料等,为客户提供包括无损分析、失效分析、物理性能测试、微纳分析、可靠性与寿命评估、工艺制程等在内的技术解决方案。

低温试验是一种标准的试验程序,用以确定经受温度突变不致产生损伤作用的电工、电子产品(包括元件、设备及其他产品)在低温下贮存和使用的适应性。


参考标准:GB/T 2423.1 / IEC 60068-2-
测试服务:1.温度范围(低温):-70~ 02.温度波动:±1℃
试验周期:2h, 16h, 72h, 96h

试验设备:

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