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Quadra™ 5 X-射线检测系统

一家专注于半导体、集成电路、LED老化测试系统、工业自动化测试检测产品的设计、研发、销售以及提供相关检测技术服务和支持的科技公司。

Quadra™ 5 X-射线检测系统
产品描述Quadra™5 是一款 X-射线检测系统。 适用于亚微米材料的应用如 PCB 和半导体封装检测、假冒成分筛选和成品质量控制。

灵活的 X-射线具有检测到 0.35um 缺陷的功能。

Quadra™5 是一款 X-射线检测系统。
适用于亚微米材料的应用如 PCB 和半导体封装检测、假冒成分筛选和成品质量控制。


Quadra NT X光管


X光管类型:

封闭穿透式

分辨率

0.35 μm(10W以内)0.95 μm(20W以内)

最大功率

0.35 μm(10W以内)0.95 μm(20W以内)

电压范围

30-160kV

Aspire FP™平板探测器


像素数:

300万像素

帧速率

25 fps

像素间距

50 μm

数字图像处理

16-bit

检测


倾斜角度视图

70°

主动减震

AxiS - 主动式X-ray 图像稳定器

显示分辨率(每英寸像素数)

94像素/英寸

最大检测区域

510 x 445 mm (20 x 17.5”)

最大样品尺寸

2,500x

最大样品重量(标准推盘)

5kg(11 lbs)

最大样品重量(碳纤维推盘)

样品重量最大500g

最大总放大倍数

45,000×

显示器

24" WUXGA单显示器(分辨率1920×1200),固定在柔性支架上           

系统


设备尺寸

1570 W x 1500 D x 1900 H mm

设备重量

1950 kg (4300 lbs)

电源

单相 200-230   VAC, 16A

典型功耗

1KW

压缩空气

4-6 bar(干燥洁净),用于防振

环境温度

10-30°C

环境湿度

<85% (non-condensing)

操作方式

鼠标操作

操作系统

Windows 10 64

    

查看最精准的细节

·         获取关于样品的更多信息。QuadraNT™ X-射线信号源和 AspireFP™ 探测器由内部设计、制造和集成,专门用于制造电子产品的样品。

·         超过 30 个高级图像增强滤波器,可以创建更加清晰、易于读取的图像,更加容易找到缺陷。

简单即标准

·         确保制造合规。用于 BGA 质量分析、凸点直径和圆度、焊丝冲弯、焊接和 QFN 空隙的内置自动化工具,可快速查找缺陷,帮助您满足 IPC-A-610 和 IPC-7095 合规标准。 

·         使用专有控制和测量软件,减少操作员培训时间。鼠标轻轻一点,即可使用所有功能。

无需维修

·         减少宕机时间。QuadraNT X-射线管无需进行日常维修或更换灯丝。

·         可重复使用为标准。因为灯丝从未更换,因此可以确保检测图像清晰可见且可以重复检验。

·         无油设计。QuadraNT 采用无油离子泵真空设计,无需换油。

 

Quadra 5 由多种配件组成,包括用于创建μm 级精度 3D 模型的μCT 镜台,以及用于重建回流焊炉条件,以便实时观察焊接工艺流程的恒温镜台。


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4-way split screen view with filters and void calculations for easier identification

BGA
Automatic BGA void calculations with exportable reports自动 BGA 孔隙率计算输出报告



Head in pillow

Head-in-Pillow effortlessly identified using X-Plane®

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Pad voiding in a QFN



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