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Flying Probe Test

一家专注于半导体、集成电路、LED老化测试系统、工业自动化测试检测产品的设计、研发、销售以及提供相关检测技术服务和支持的科技公司。

飞针测试 Flying Probe Test
产品描述

新品开发(NPI):当新品的样件还没有全部定型,而且需要对该样件的性能进行评估时,飞针测试的快速和灵活性立刻就体现出来了,因为它不需要等着治具或产生过多的测试成本。

测试中的生产力:在新版的VIVA3.0软件中,体现出其运算法则和测试理念的演变,其特色在于,Seica公司生产的飞针测试设备的测试速度变得更快,更适应电路板生产的快节奏。若干种测试方法的集成,如在板编程(OBP)、光学检测、红外热扫描检测以及具有对加电被测板进行功能测试的能力等,都可以讲这些不同生产阶段的测试任务集成在一起,将其优化。

维修:在没有最终的功能测试的条件下,而标准的ICT的测试性能下降或缺乏应有的功能,此外,飞针测试便凸显出其作为维修工具的价值了,因为它具备了提供你所关注和有效的统计数据的能力。特别是对于被测板上所检测出来的各种类型的故障,运用其完善的运算法则。

反求工程:维修电路板是一件困难的工作,特别是手头上没有设计文件,会难上加难;而反求工程可以轻而易举地重现板图和原理图。


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